Голографический метод

1 – лазер;

2 – светоделительная призма;

2' – светоделительная поверхность (тонкий прозрачный слой, золоченная);

3 – уголковые отражатели;

4 – светофильтры;

5,6 – поляризационные фильтры;

7,8 – фотодетекторы;

9 – отсчетное устройство (ОУ).

Луч лазера поступает на светоделительную призму (кварцевое стекло), одна часть луча проходит через поверхность, фильтруется фильтром и переходит на уголковый отражатель. Другая часть отражается и через светофильтр 4'' поступает на другой УО, причем отражатель 3’ расположен на объекте, а 3” расположен неподвижно. Отраженные от УО лучи, лучи лазера в т b интерферируют и поступают на поляризационный фильтр 5, детектор 7 и ОУ 9. Одновременно в точке a часть луча интерферируется и поступает на блоки 6, 8 и второй вход блока обработки 9. При интерференции в точке b происходит наложение 2-х колебаний, отраженных от неподвижного 3'' и подвижного 3' уголковых отражателей. Если эти колебания находятся в фазе, то они складываются и на 7 поступает более интенсивное излучение (пучность). Если в противофазе, то они взаимно компенсируют друг друга и интенсивность излучения уменьшается. При перемещение 3' вместе с объектом от 2 последовательно возникают N пучностей на выходе 7, которые подсчитывает ОУ. Зная расстояние между пучностями и период излучения лазера несложно подсчитать время задержки и расстояние от УО до светоделительной призмы.

Электрофизические методы делятся на электрокондуктометрические, термокондуктометрические, вихревые и резонансные методы.

Электрокондуктометрический метод измерения толщины.

1 – слой лака

2 – металлическая пластина

3 – медная проводящая пластина

м/у проводящим слоем (3) и металлической пластиной (2) образуется емкость.

, S- площадь, d – толщина покрытия, E0 – диэлектрическая проницаемость вакуума, Е – диэлектрическая проницаемость среды.