Дифракция Фраунгофера на дифракционной решетке
|
Дифракционная решетка является основным элементом спектральных приборов и представляет собой периодическую структуру, выгравированную специальной делительной машиной на поверхности стеклянной пластинки. У хороших решеток на каждый миллиметр приходится до 2000 штрихов. На практике применяются также и более грубые решетки с 50 – 100 штрихами на миллиметр, нанесенными на поверхность прозрачной пленки. Простейшая дифракционная решетка состоит из прозрачных участков (щелей), разделенных непрозрачными промежутками.
Дифракционная картина на решетке определяется как результат взаимной интерференции волн, идущих от всех щелей, т.е. в решетке осуществляется многолучевая интерференция когерентных дифрагированных пучков света от всех щелей.
Оптическая разность хода между крайними лучами на периоде решетки
. (7)
Для того, чтобы в точке Cj наблюдался дифракционный максимум, разность хода Δ между волнами, испущенными соседними щелями, должна быть равна целому числу длин волн:
. (8)
Здесь m – целое число, которое называется порядком дифракционного максимума. В тех точках экрана, для которых это условие выполнено, располагаются так называемые главные максимумы дифракционной картины. Амплитуда суммарного колебания в этих точках экрана максимальна:
Аmax ≈ NAφ,
где Aφ - амплитуда колебания, посылаемого одной щелью под углом φ.
Интенсивность главного максимума
, (9)
|
При многолучевой интерференции от N щелей амплитуда колебаний возрастает в N раз, а интенсивность в N2 раз по сравнению с колебанием, которое возбуждает волна только от одной щели.
При смещении из главных максимумов интенсивность колебаний быстро спадает. Чтобы N волн погасили друг друга, разность фаз должна измениться на 2π / N, а не на π, как при интерференции двух волн. Т. о., при переходе из главного максимума в соседний минимум разность хода Δ = d sin θ должна измениться на λ / N. Отсюда следует важный вывод: главные максимумы при дифракции света на решетке чрезвычайно узки.
Определим количество дифракционных максимумов, даваемых решеткой по одну сторону от центра экрана, с учетом условий φ = π/2 - максимальный угол дифракции; sin φ <1:
. (10)
При этом не следует забывать, что m - целое число.
|
Как следует из формулы (8) дифракционной решетки, положение главных максимумов (кроме нулевого) зависит от длины волны λ. Поэтому решетка способна разлагать излучение в спектр, то есть она является спектральным прибором. Если на решетку падает немонохроматическое излучение, то в каждом порядке дифракции (т. е. при каждом значении m) возникает спектр исследуемого излучения, причем фиолетовая часть спектра располагается ближе к максимуму нулевого порядка.
С помощью дифракционной решетки можно производить очень точные измерения длины волны. Если период d решетки известен, то определение длины сводится к измерению угла jm, соответствующего направлению на выбранную линию в спектре m-го порядка. На практике обычно используются спектры 1-го или 2-го порядков.
Угловая дисперсия дифракционной решетки
Основное назначение дифракционной решетки - установление длины волны исследуемого излучения. Так как положение спектральных линий задается углом, определяющим направление лучей, Качество дифракционной решетки определяется угловой дисперсией (D) :
, (11)
где ∆φ - угловое расстояние между спектральными линиями, отличающимися по длине волны на ∆λ . D - угловое расстояние между двумя линиями, отличающимися по длине волны на 1 Ангстрем (1=10-10 м).
Дифференцируя (8) слева по φ, а справа по λ, находим
|
. (12)
Чем меньше период решетки d и чем выше порядок спектра m, тем больше угловая дисперсия. В пределах небольших углов (cos φ ~1 ) можно положить
. (13)
Из выражения (13) следует, что угловая дисперсия прямо пропорциональна порядку дифракции mи обратно пропорциональна расстоянию между соседними штрихами d . Следовательно, для увеличения дисперсии необходимо увеличивать число штрихов на единицу длины. Этим объясняется необходимость изготовления дифракционных решеток с возможно большим числом штрихов на 1мм ширины.