Надежность ИС К564

Нагрузочная способность

Значения входных и выходных токов определяют коэффициент разветвления по выходу К_раз микросхем по постоянному току, значение его определяется как наименьшее из коэффициентов разветвления по выходу в режимах низкого и высокого уровней:

Допустимые емкости нагрузки C_L и входные емкости С_I характеризуют коэффициент разветвления по выходу ИС К564 по переменному току К_раз._пер^:

где С_монт — емкость монтажа.

При эксплуатации аппаратуры рекомендуется применять микросхемы с C_L<500 пФ, при этом мощность, рассеиваемая корпусом микросхемы, не должна превышать 200 мВт.

Микросхемы, изготовленные по КМОП-технологии, имеют высокую нагрузочную способность, которая ограничивается предельно допустимым током нагрузки. Эффективное значение предельно допустимого тока на один вывод определяется максимальным током, не приводящим к пережогу шины металлизации, для ИС К564 он не должен превышать 10 мА.

Статистические данные и материалы физико-технического анализа показывают, что надежность микросхем зависит от выбранного режима работы.

Рис. 5.25 - Изменение относительной интенсивности отказов ИС К564 от температуры кристалла (а) и от напряжения питания (б)

На рис. 5.25 приведено изменение относительной интенсивности отказов ИС К564 от температуры кристалла и напряжения питания. Из рис. 5.25, а и б можно сделать вывод, что наиболее оптимальными режимами работы схемы являются Т<65 °С и {U_cc =5...10 В.