Комплементарні MДH-ключі.

Розглянута схема має ряд недоліків як схемотехнічного, так і технологічного характеру, які дуже важко усунути. Вихід з цієї ситуації знаходиться у використаннідинамічного навантаження, в якості якого використовується транзисторний ключ протилежної провідності (рис. 2.11).

У приведеній схемі обидва транзистори включені однаково за схемою з загальним витоком, і ключ є симметричним по відношенню до вхідної та вихідної напруги. Вхідна напруга для обох транзисторів визначається по-різному: для n- канального VT2 – по відношенню до загальної шини, а для p- канального VT1 – до шини живлення. Тому діаграма напруг керування ключом має вигляд, приведений на рис. 2.12, де UК.1 = UВХ – напруга керування транзистором VT1, а UК.2 = ЕUВХ – напруга керування VT2. Враховуючи, що для кожного транзистора UП є постійною величиною, у залежності від величини напруги Е можливі різні співвідношення між напругою живлення Е та пороговими рівнями:

а) E > UП.1 + UП.2 ;

б) E < UП.1 + UП.2 ; (2.16)

в) E = UП.1 + UП.2 .

Випадок в реалізувати практично неможливо, тому що неможливо точно задати UП.1 та UП.2 .

Конкретні значення високого і низького рівнів вихідної напруги ключа визначаються співвідношенням опорів закритого транзистора RЗ та відкритого RВ . Реально RЗ >> RВ , тому напруга високого рівня практично дорівнює напрузі живлення, а низького – майже не відрізняється від нуля. При зміні вхідної напруги від нуля до UП.1 транзистор VT2 закритий. У той же час, відповідно до (2.16, а) транзистор VT1 з відкритого стану з практично нульовою напругою на ньому переходить при UВХ.П2 з пологої характеристики на круто падаючу. При подальшому підвищенні UВХ до UП.1відкривається транзистор VT2, який спочатку буде знаходитись на пологій частині характеристик. При підвищенні UВХ напруга UЗ.2 на затворі VT2 зменшується відповідно до формули:

UЗ.2 = ЕUВХ ,

і транзистор буде підтримуватись в відкритому стані, доки

UВХ < ЕUП.2 .

Як результат, в інтервалі вхідної напруги

UП.1 < UВХ < ЕUП.2

обидва транзистори перебуватимуть у відкритому стані і через них протікатиме прохідний струм (інтервал ).

Коли UВХ досягне рівня (ЕUП.2), транзистор VT1закриється, і струм через транзистори припиниться. Подальше підвищення UВХ приведе до переходу транзистора VT2до відкритого стану.

 

Приклад 2.2. При яких вхідних напругах обидва транзистори (рис. 2.11) будуть відкриті, якщо Е = 10 В; UП.1 = 5 В; UП.2 = 4 В ?

Розв’язання. Обидва транзистори перебуватимуть у відкритому стані в інтервалі вхідних напруг

5 В < UВХ < (10 – 4) В = 6 В.

Розглянемо тепер ситуацію, яка має місце при виконанні співвідношення (2.16, б), коли сума порогових рівнів перевищує напругу живлення Е (див. рис. 2.13, б).

При підвищенні вхідної напруги до величини UВХ = ЕUП.2 транзистор VT1 закривається. Транзистор VT2 перебуватиме у закритому стані до тих пір, поки UВХ < UП.1. Коли UВХ = UП.1 , транзистор VT2 відкривається і після того, як вхідна напруга стане більшою рівня UВХ.П.1 , переходить у режим круто падаючих характеристик з практично нульовим рівнем вхідної напруги. Прохідний струм у такій схемі не з’являється.

Враховуючи той факт, що порогові рівні для кожного транзистора є величинами постійними, кожен з режимів може мати місце, якщо змінювати напругу живлення. Режим б, як видно з аналізу, корисний з тієї точки зору, що транзисторний ключ ні в статичних режимах, ні при зміні стану не споживає струму (якщо не враховувати наявність паразитних конденсаторів). При підвищенні напруги живлення схема переходить у режим а, за яким, як буде показано пізніше, можуть наступати аварійні режими.

Часові співвідношення розглянутого ключа при зміні його станів набагато кращі, ніж ключа з резистивним навантаженням. Перш за все, це пояснюється тим, що в процесі зарядки паразитних конденсаторів відсутній високоомний опір RС і їх перезаряд проходить через відкриті транзистори VT1 і VT2. Слід зазначити, що час перемикання ключа суттєво залежить від величини порогових рівнів і крутизни характеристики ІЗ = f (UВЗ) транзисторів, які є технологічними параметрами і можуть покращуватись з удосконаленням технологій виробництва інтегральних схем.