Метод на основе информационного критерия


Метод половинного разбиения

 

Этот метод часто используется в разработке алгоритмов поиска неисправностей в РЭА с последовательно соединенными элементами. Первым для контроля выбирается параметр, делящий всю схему пополам. При положительном результате контроля (сигнал на выходе элемента находится в допуске) следующим для контроля выбирается элемент, делящий неисправную часть схемы пополам и так далее до определения неисправного элемента (блока, узла). Такой алгоритм возможен в том случае, когда вероятности состояний P(Si) одинаковы для всех элементов, стоимости контроля выходных параметров Ziтакже одинаковы.

В том случае, когда вероятности состояний P(Si) для функциональных элементов неодинаковы, тогда вероятности необходимо первым контролировать такой параметр Zk, который делит ОД на части, вероятности состояния которых близки к 0,5.

Неопределенность состояния ОД до контроля оценивается величиной энтропии

N

H0 = - ∑ P(Si)*log2 P(Si) = log2 N (13)

i=1

Неопределенность состояния ОД при контроле параметра Zkбудет:

 

H(Zk) = - (Pk *log2 Pk + (1- Pk) *log2 (1- Pk)) , (14)

 

N

где Pk = ∑ P(Si) , i = 1, 2, 3, …

i=1

Величина H(Zk) будет максимальна, если разность (Pk – 0,5)минимальна.

После контроля параметра (Zk)ОД будет разделен на две части: первая содержит K, а вторая (N - K) элементов. При выборе очередного параметра для контроля необходимо вероятности состояний в каждой из этих частей пронормировать, пересчитать по формулам:

 

k

P'(Si) = P(Si)/ ∑ P(Si) , i = 1, 2, 3, … k (15)

i = 1

N

P" (Si) = P(Si)/ ∑ P(Si) , i = k + 1, k + 2, … , N (16)

i=k+1

 

 

При этом

k N

∑ P' (Si) = 1 и ∑ P" (Si) = 1. (17)

i = 1 i=k+1

Тогда вторым параметром выбирается Zll ,который делит одну из частей на две, вероятности которых

l

∑P" (Si) = 0,5(18)

i=1

Такое деление продолжается до тех пор, пока состояние ОД не будет определено с заданной глубиной.

Метод половинного разбиения применим и для случая, когда в ОД неисправно несколько элементов.

 

3.3 Метод «время-вероятность»

 

Этот способ находит применение для РЭА, в которой функциональные элементы соединены произвольно и имеют разные вероятности P(Si) состояний и различные стоимости проведения контроля параметров С(Zi). Эффективность метода оценивается средним временем поиска неисправного элемента или средним временем контроля одного параметра. Последовательность контроля параметров устанавливается в порядке уменьшения величины:

P(S1)/ t1> P(S2)/ t2> …> P(SN)/ tN(19)

 

Располагая в порядке уменьшения величины P(Si)/ti , получим следующую последовательность для контроля параметров:

 

ZN → … → ZK → … → ZM → … → ZC

Метод построения алгоритма поиска неисправностей на основе информационного критерия позволяет выбрать минимальное количество контролируемых параметров и определить последовательность их контроля.

Исходными данными являются функциональная модель и таблица неисправностей.

Предварительно ОД разделяются на N функциональных элементов, вероятности состояний, которых принимаем одинаковыми

 

P(Si) = P(S1) = P(S2) = …= P(SN) =1/N(20)

 

Неопределенность состояний ОД до контроля определяется оценивается величиной энтропии

 

H0 = log2 N (21)

 

Результат контроля к - го параметра ОД дает некоторое количество информации о его контроле:

 

IK = H0 - HK (22)

где HK - средняя условная энтропия ОД при условии контроля к - го параметра.

HK = P(Z'K) НZ'K + P(Z0K) НZ0K (23)

P(Z'K) = 1/N ; P(Z0K) = (N – m)/N, (24)

где m – количество единиц в к - ой строке.

HK =log2 m + log2 (N – m) (25)

 

Контроль к – го параметра дает следующее количество информации:

(26)

Последовательно вычисляем значения IK (где к = 1, N) и по убыванию IK определяем значимость параметра ZK . Первым контролируется параметр ZK , дающий максимальное количество информации.

После контроля первого параметра определяют количество информации, получаемое при контроле каждого n оставшегося параметра относительно состояния, характеризующегося энтропией НZK . Условная энтропия

 

H(zn/zK) = P(z'n/z'K)*Hz'n/z'K + P(z0n/z0K)*Hz0n/z0K +

+P(z0n/z'K)*Hz0n/z'K + P(z'n/z0K)*Hz'n/z0K (27)

 

где P(z'n/z'K) = m1/N – вероятность положительного решения при контроле параметра Zn в случае положительного решения при контроле параметра ZK; m1 – количество единиц в n-ой строке таблицы состояний относительно m единиц в к-ой строке; m2 – количество единиц в n-ой строке относительно (N – m) нулей к-ой строки.

 

(28)

 

(29)

 

(30)

 

Hz'n/z'K = log2 m1 ; (31)

 

Hz0n/z'K = log2 (m - m1 ) ; (32)

 

Hz'n/z0K = log2 m2 ; (33)

 

Hz0n/z0K = log2 (N - m - m2 ) ; (34)

 

I (zn / zK) = HK – H(zn / zK) . (35)

 

Выражение для вычисления количества условной информации имеет вид:

 

(36)

По максимуму условной информации выбирается второй контролируемый параметр. По такой же схеме выбираются все остальные параметры.

После всех расчетов строим схему поиска неисправностей.

 

Пример 3.4.1

         
   
 
 
 

 


 

Рис. 6 Функциональная модель ОД

 

Табл. 4

Zi Si
S1 S2 S3 S4 S5
Z1
Z2
Z3
Z4
Z5

 

Из анализа табл. 4 находим, что контроль параметра Z5 для поиска неисправностей не дает никакой информации, поэтому его можно из дальнейшего рассмотрения исключить. Тогда энтропия (21) до контроля будет

H0 = log2 5 = 2,32

 

Количество информации (22) при контроле каждого параметра следующее:

 

I1 =

 

I2 =

 

I3 =

 

I4 =

 

Для контроля берем Z2 . После его контроля могут быть приняты два решения: значение параметра Z2 в допуске – функциональные элементы 1,2,3 исправны, а неисправность в элементе 4 или 5; (см. Рис. 6); значение параметра Z2 не в допуске - функциональные элементы 4 и 5 исправны, а не исправность в элементах 1, 2, 3 .

В соответствии с этим решением перестраиваем матрицу состояний (табл. 5)

 

Табл. 5

Zi Si
S4 S5 S1 S2 S3
Z2
Z1
Z3
Z4

 

 

Теперь вычислим количество информации (36), которое дает контроль параметров Z1 , Z3 , Z4 при условии, что Z2 проконтролирован:

 

 

Следовательно, вторым для контроля выбираем Z4 . Исключим из табл. 5 строку Z2 (табл. 6)

 

Табл. 6

Zi Si
S4 S5 S1 S2 S3
Z4
Z1
Z3

 

В результате построения алгоритма поиска неисправностей в заданном ОД получаем, что для поиска неисправностей достаточно контролировать последовательность из трех параметров (Z2 , Z4 , Z1) по определенной схеме (Рис. 7). Контроль параметра Z4 при условии, что Z2 = 1 дает два решения: если Z4=0, то неисправен элемент 4, если Z4=1, то неисправен элемент 5.

Если Z2 = 0 и Z4 = 0, то неисправен элемент 3 . Если Z2 = 0 и Z4 = 1, то надо контролировать параметр Z1 . Если Z1 = 0, то неисправен элемент 1, если Z1 = 1, то неисправен элемент 2 (Табл. 7).

 

Табл. 7

Zi Si
S4 S5 S1
Z4
Z1
Z3

 

 

 

Рис.7 Схема поиска неисправностей