Метод на основе информационного критерия
Метод половинного разбиения
Этот метод часто используется в разработке алгоритмов поиска неисправностей в РЭА с последовательно соединенными элементами. Первым для контроля выбирается параметр, делящий всю схему пополам. При положительном результате контроля (сигнал на выходе элемента находится в допуске) следующим для контроля выбирается элемент, делящий неисправную часть схемы пополам и так далее до определения неисправного элемента (блока, узла). Такой алгоритм возможен в том случае, когда вероятности состояний P(Si) одинаковы для всех элементов, стоимости контроля выходных параметров Ziтакже одинаковы.
В том случае, когда вероятности состояний P(Si) для функциональных элементов неодинаковы, тогда вероятности необходимо первым контролировать такой параметр Zk, который делит ОД на части, вероятности состояния которых близки к 0,5.
Неопределенность состояния ОД до контроля оценивается величиной энтропии
N
H0 = - ∑ P(Si)*log2 P(Si) = log2 N (13)
i=1
Неопределенность состояния ОД при контроле параметра Zkбудет:
H(Zk) = - (Pk *log2 Pk + (1- Pk) *log2 (1- Pk)) , (14)
N
где Pk = ∑ P(Si) , i = 1, 2, 3, …
i=1
Величина H(Zk) будет максимальна, если разность (Pk – 0,5)минимальна.
После контроля параметра (Zk)ОД будет разделен на две части: первая содержит K, а вторая (N - K) элементов. При выборе очередного параметра для контроля необходимо вероятности состояний в каждой из этих частей пронормировать, пересчитать по формулам:
k
P'(Si) = P(Si)/ ∑ P(Si) , i = 1, 2, 3, … k (15)
i = 1
N
P" (Si) = P(Si)/ ∑ P(Si) , i = k + 1, k + 2, … , N (16)
i=k+1
При этом
k N
∑ P' (Si) = 1 и ∑ P" (Si) = 1. (17)
i = 1 i=k+1
Тогда вторым параметром выбирается Zll ,который делит одну из частей на две, вероятности которых
l
∑P" (Si) = 0,5(18)
i=1
Такое деление продолжается до тех пор, пока состояние ОД не будет определено с заданной глубиной.
Метод половинного разбиения применим и для случая, когда в ОД неисправно несколько элементов.
3.3 Метод «время-вероятность»
Этот способ находит применение для РЭА, в которой функциональные элементы соединены произвольно и имеют разные вероятности P(Si) состояний и различные стоимости проведения контроля параметров С(Zi). Эффективность метода оценивается средним временем поиска неисправного элемента или средним временем контроля одного параметра. Последовательность контроля параметров устанавливается в порядке уменьшения величины:
P(S1)/ t1> P(S2)/ t2> …> P(SN)/ tN(19)
Располагая в порядке уменьшения величины P(Si)/ti , получим следующую последовательность для контроля параметров:
ZN → … → ZK → … → ZM → … → ZC
Метод построения алгоритма поиска неисправностей на основе информационного критерия позволяет выбрать минимальное количество контролируемых параметров и определить последовательность их контроля.
Исходными данными являются функциональная модель и таблица неисправностей.
Предварительно ОД разделяются на N функциональных элементов, вероятности состояний, которых принимаем одинаковыми
P(Si) = P(S1) = P(S2) = …= P(SN) =1/N(20)
Неопределенность состояний ОД до контроля определяется оценивается величиной энтропии
H0 = log2 N (21)
Результат контроля к - го параметра ОД дает некоторое количество информации о его контроле:
IK = H0 - HK (22)
где HK - средняя условная энтропия ОД при условии контроля к - го параметра.
HK = P(Z'K) НZ'K + P(Z0K) НZ0K (23)
P(Z'K) = 1/N ; P(Z0K) = (N – m)/N, (24)
где m – количество единиц в к - ой строке.
HK =log2 m +
log2 (N – m) (25)
Контроль к – го параметра дает следующее количество информации:
(26)
Последовательно вычисляем значения IK (где к = 1, N) и по убыванию IK определяем значимость параметра ZK . Первым контролируется параметр ZK , дающий максимальное количество информации.
После контроля первого параметра определяют количество информации, получаемое при контроле каждого n оставшегося параметра относительно состояния, характеризующегося энтропией НZK . Условная энтропия
H(zn/zK) = P(z'n/z'K)*Hz'n/z'K + P(z0n/z0K)*Hz0n/z0K +
+P(z0n/z'K)*Hz0n/z'K + P(z'n/z0K)*Hz'n/z0K (27)
где P(z'n/z'K) = m1/N – вероятность положительного решения при контроле параметра Zn в случае положительного решения при контроле параметра ZK; m1 – количество единиц в n-ой строке таблицы состояний относительно m единиц в к-ой строке; m2 – количество единиц в n-ой строке относительно (N – m) нулей к-ой строки.
(28)
(29)
(30)
Hz'n/z'K = log2 m1 ; (31)
Hz0n/z'K = log2 (m - m1 ) ; (32)
Hz'n/z0K = log2 m2 ; (33)
Hz0n/z0K = log2 (N - m - m2 ) ; (34)
I (zn / zK) = HK – H(zn / zK) . (35)
Выражение для вычисления количества условной информации имеет вид:
(36)
По максимуму условной информации выбирается второй контролируемый параметр. По такой же схеме выбираются все остальные параметры.
После всех расчетов строим схему поиска неисправностей.
Пример 3.4.1
![]() | ![]() | |||
![]() |
Рис. 6 Функциональная модель ОД
Табл. 4
Zi | Si | ||||
S1 | S2 | S3 | S4 | S5 | |
Z1 | |||||
Z2 | |||||
Z3 | |||||
Z4 | |||||
Z5 |
Из анализа табл. 4 находим, что контроль параметра Z5 для поиска неисправностей не дает никакой информации, поэтому его можно из дальнейшего рассмотрения исключить. Тогда энтропия (21) до контроля будет
H0 = log2 5 = 2,32
Количество информации (22) при контроле каждого параметра следующее:
I1 =
I2 =
I3 =
I4 =
Для контроля берем Z2 . После его контроля могут быть приняты два решения: значение параметра Z2 в допуске – функциональные элементы 1,2,3 исправны, а неисправность в элементе 4 или 5; (см. Рис. 6); значение параметра Z2 не в допуске - функциональные элементы 4 и 5 исправны, а не исправность в элементах 1, 2, 3 .
В соответствии с этим решением перестраиваем матрицу состояний (табл. 5)
Табл. 5
Zi | Si | ||||
S4 | S5 | S1 | S2 | S3 | |
Z2 | |||||
Z1 | |||||
Z3 | |||||
Z4 |
Теперь вычислим количество информации (36), которое дает контроль параметров Z1 , Z3 , Z4 при условии, что Z2 проконтролирован:
Следовательно, вторым для контроля выбираем Z4 . Исключим из табл. 5 строку Z2 (табл. 6)
Табл. 6
Zi | Si | ||||
S4 | S5 | S1 | S2 | S3 | |
Z4 | |||||
Z1 | |||||
Z3 |
В результате построения алгоритма поиска неисправностей в заданном ОД получаем, что для поиска неисправностей достаточно контролировать последовательность из трех параметров (Z2 , Z4 , Z1) по определенной схеме (Рис. 7). Контроль параметра Z4 при условии, что Z2 = 1 дает два решения: если Z4=0, то неисправен элемент 4, если Z4=1, то неисправен элемент 5.
Если Z2 = 0 и Z4 = 0, то неисправен элемент 3 . Если Z2 = 0 и Z4 = 1, то надо контролировать параметр Z1 . Если Z1 = 0, то неисправен элемент 1, если Z1 = 1, то неисправен элемент 2 (Табл. 7).
Табл. 7
Zi | Si | ||
S4 | S5 | S1 | |
Z4 | |||
Z1 | |||
Z3 |
Рис.7 Схема поиска неисправностей