< <Методика оценки интеллектуальной собственности на основе затратного подхода
Каталог статей

Черняева Н.В.
аспирант кафедры «Информационные системы в экономике»

Волгоградский государственный технический университет, Россия

Методика оценки интеллектуальной собственности на основе затратного подхода

В настоящее время в мировых экономических отношениях все более часто присутствует факт купли-продажи объектов интеллектуальной собственности. Анализ современного состояния в области определения цены на данный вид собственности позволяет сделать вывод о том, что эта проблема недостаточно проработана.

Знание хотя бы будущих затрат на создания интеллектуальной собственности необходимо как часть почти всех методов стоимостной оценки. Методы стоимостной оценки, основанные на исторических затратах приобретения, являются актуальными в использовании и сегодня. Однако их наиболее серьезный недостаток состоит в том, что они не делают никакой поправки на будущие выгоды, которые могут накапливаться от патента.

Наиболее подробное изложение затратного подхода при расчете предполагаемых цен на объекты интеллектуальной собственности (изобретения, патенты, лицензий) даны в работах С.А. Смирнова.

Метод исходных затрат заключается в суммировании исторических (первоначальных) затрат, пересчитанных с учетом настоящих условий с учетом индекса изменения цен в данной отрасли. [1, c.18]

При оценке следует учитывать все существенные расходы, среди которых такие как оплата труда, маркетинговые и рекламные расходы, расходы на страхование рисков, связанных с объектами интеллектуальной собственности, расходы и издержки на решение правовых конфликтов, на израсходованные материалы, себестоимость научно-методического обеспечения, патентная чистота — патенты, лицензий и т. д. [4, c. 125-127]

Для вычисления цены лицензии взята за основу методика, утвержденная Министерством имущественных отношенной РФ, отражающая затратный принцип. [3,c.55-58] Суть модификации заключается в замены стандартной шкалы коэффициента научно-технической ценности на значение коэффициента технико-экономической полезности методикой, разработанной на основе применения метода анализа иерархий.

В общем виде нижний предел цены лицензии определяется по следующей формуле:

Цн= ({3 + П}*Кц + Ва) *K1 *K23 ( 1 )

где 3 - затраты лицензиара на создание и закрепление прав собственности на объект лицензионного договора; П - сумма предполагаемой прибыли правообладателя; Кц - коэффициент научно-технической ценности объекта лицензионного договора; Ва - сумма вознаграждения авторам изобретения; K1 - коэффициент степени готовности объекта лицензионного договора к внедрению; К2 - коэффициент технического риска реализации проекта; К3 - коэффициент учета передаваемых прав.

В рассматриваемых методических рекомендациях выделены 3 уровня научно-технической ценности изобретения Кц: для разработок, научно-технический уровень которых выше мирового - 2,0; на уровне мирового- 1,75; уровень которых выше отечественного -1,3.

Использование данного варианта метода может привести к значительному искажению конечного результата. И в ситуации, когда переговоры ведутся о заключении сделки на крупную сумму, изменение цены на доли процента может обернуться значительной суммой упущенной выгоды.

Метод анализа иерархий предлагает построение иерархической структуры показателей в виде трехуровневой модели: цель, критерии, альтернативы. Целью является технико-экономической полезности изобретения, критериями – комплекс показателей, альтернативами – оцениваемой изобретение и прототип-аналог. Оценка уровень технико-экономической полезности изобретения и базового прототипа-аналога, на основе ранжирования показатели с учетом их весовых коэффициентов, позволяет делать выводы об эффективности оцениваемых образцов при выполняет основной функциональной задачи.[5, с149-157]

Используя промежуточные результаты (векторы приоритетов внешних и внутренних параметров), мы получили вектор приоритетов альтернатив:

WA={ WA0; W}T .

Согласно разработанной методике коэффициент технико-экономической полезности оцениваемого изобретения рассчитывается по формуле:

КТЭП=1+WA0 (2)

С учетом все факторов, цена лицензии на изобретение будет определяться по следующей формуле :

Цн=({З+П}*КТЭПа)*К123 (3)

Литература:

  1. Оценка интеллектуальной собственности: учеб. пособие / под ред. С.А.Смирнова. - М.: Финансы и статистика, 2005. - 351с.
  2. Соломахин И. С, Козлов А. А. Методические положения по оценке стоимости научно-технических разработок в условиях рыночной экономики.- М.: ООП ГАУ, 1996.- 125с.
  3. Бромберг Г.В. и др. Рекомендации по определению стоимости объектов промышленной собственности / Г.В. Бромберг, В.Ю. Хин, Н.В. Лынник. - М., 1998. - 25 с.
  4. Козырев А. Н. Оценка интеллектуальной собственности.- М.: Экспертное бюро-М, 1997.- 289 с.
  5. Андрейчиков А.В., Андрейчикова О.Н. Анализ, синтез, планирование решений в экономике / А.В. Андрейчиков, О.Н. Андрейчикова. – М.: Финансы и статистика, 2000. – 368с